武汉智博通科技(图)-磁性覆层测厚仪-测厚仪
武汉智博通科技有限公司
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MC-2010A型涂（镀）层测厚仪
MC-2010A型涂层测厚仪工作原理：MC-2010A型涂（镀）层测厚仪采用电磁感应法测量涂（镀）层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，湿膜片测厚仪，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以准确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂（镀）层厚度。
产品性能
MC-2010A型涂镀层测厚仪技术参数
1、测量范围：0~1200um
2、测量误差：<3%±1um
4、显示方式： 4位液晶数字显示
5、主要功能：
(1).测量：内置探头全量程测厚
(2).统计：设有三个统计量：平均值
(3).校准：可进行零点校准、两点校准及系统校准
(4).电量：具有欠压显示功能
(5).蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示
(6).关机：具有自动关机和手动关机两种方式
6、电源： 两节1.5v电池
8、外形尺寸：115mm*45mm*25mm
10、使用环境温度： 0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90%
13、曲率半径： 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠电压指示： 右上角显示＂＂
*临界厚度值：工件铁基厚度大于1mm时，其涂（镀）层厚度的测量不受铁基厚度影响。
水下超声波测厚仪UMX-2
美国DAKOTA ULTRASONICS公司水下测厚仪UMX-2
探头选择
型号:PT-174-2006
频率:5.0MHz
探头晶片直径:φ12.7mm
测量范围说明:1.27～508mm
美国DAKOTA ULTRASONICS公司水下测厚仪UMX-2
探头选择
型号:PT-174-2006
频率:5.0MHz
探头晶片直径:φ12.7mm
测量范围说明:1.27～508mm
EPK MiniTest 720/730/740涂层测厚仪MiniTest 720/730/740涂层测厚仪
-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精准性
-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，电解式测厚仪，操作方便不易出错
MMiniTest 720/730/740涂层测厚仪优点一览：
-SIDSP使测量不受干扰，测值更加精准
-可更换探头使用更加灵活（MINITEST 740探头可由内置换为外置）
-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，测厚仪，避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高精准度的特征曲线
-大存储量，能存储10或100组多达100，000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大，背光显示屏，菲尼克斯测厚仪，显示内容可180度旋转
-菜单指引操作，25种语言可选
-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
测厚仪-武汉智博通科技-湿膜片测厚仪由武汉智博通科技有限公司提供。测厚仪-武汉智博通科技-湿膜片测厚仪是武汉智博通科技有限公司（www.whzbt.com）今年全新升级推出的，以上图片仅供参考，请您拨打本页面或图片上的联系电话，索取联系人：马先生。同时本公司（www.zdszby.com）还是专业从事自动三坐标仪，自动三坐标仪测量，自动三坐标仪测量仪的厂家，欢迎来电咨询。
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